鍍層測厚儀是將X射線(xiàn)照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線(xiàn)的強度來(lái)。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒(méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線(xiàn)只有45-75W左右，所以不會(huì )對樣品造成損壞。同時(shí)，測量可以在10秒到幾分鐘內完成。

　　鍍層測厚儀在測量時(shí)偶爾會(huì )示值不準，那么下面幾個(gè)問(wèn)題對測量結果有影響作用，我們來(lái)看看如何應對：

　　1、表面粗糙度和表面清潔度

　　在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。顯而易見(jiàn)，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。本儀器為獲得可靠的數據，基體的平均粗糙度應小于覆層厚度的5％。而對于表面雜質(zhì)，則應予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。

　　2、覆層材料中的鐵磁成份和導電成份

　　覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時(shí)，會(huì )對測量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對用作校準的對比試樣覆層應具有與被測物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標準。

　　3、探頭測量板的作用力

　　儀器探頭測量時(shí)的作用力應是恒定的。并應盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測量值下降?；町a(chǎn)生大的波動(dòng)，必要時(shí)，可在兩者之間墊一層硬的，不導電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過(guò)減去薄膜厚度就能適當地得到剩磁。

　　4、外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁

　　應該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測量。殘存的剩磁，根據鍍層測厚儀的性能可能導致或多或少的測量誤差，但是如結構鋼，深沖成形鋼板等一般不會(huì )出現上述現象。